Vybrané analyzační techniky pro charakterizaci tenkých vrstev

Kdy? 20.10.2009 8:00
Kde? ZČU / FAV / KFY / UF226 (zasedací místnost)
Kategorie

Přednáší: Ing. Radomír Čerstvý

Seznámení s některými analyzačními technikami používanými na katedře fyziky pro charakterizaci tenkých vrstev. Jedná se o rentgenovskou difrakční spektroskopii, rentgenovskou fluorescenční spektroskopii a měření mikrotvrdosti. Součástí bude rovněž informace o přípravě vzorků.

Evropská unie, ESF, MŠMT, OP Vzdělávání pro konkurenceschopnost, ZČU

Vyhledávání

RSS kanál

Chcete mít stále aktuální přehled toho, co se chystá? Přidejte si náš kanál s přehledem chystaných událostí do Vaší RSS čtečky.